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薄膜厚度測量儀：使用F32可以簡單快速地在線測量膜厚。從對膜的頂部和底部反射光譜進行分析可得到實時厚度信息。

主動式防震臺水平自動調節功能即使負載重心偏離中心，自動的水平調節功能也可以讓心偏回來，繼續為儀器提供一個穩定的使用環境。

電阻率測量儀R50提供接觸式四點探針（4PP）和非接觸式渦流（EC）測量。電動X-Y載物臺可額外使用定制樣品架，樣品測量可達300mm的，可測量面積可達200mm。

薄膜厚度測量儀-膜厚儀：Filmetrics的精密光譜測量系統讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內就可測量結果。

Herz主動式減震系統平臺為電子顯微鏡和類似的大型研究儀器提供的主動隔振性能(從0.5Hz開始)。UT-1000A平臺通過消除，干擾測量的破壞性低頻振動噪聲，幫助用戶從顯微鏡中獲得更多信息。

F54薄膜厚度測量儀的產品能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達450毫米，可選擇數十種內建之同心圓,矩形,或線性圖案模式,或自行建立無數量限制之測量點.只需具備基本電腦技能，就可在數分鐘內自行建立配方。